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參考資料 8174

鎵熔點(diǎn)參考 (29.7646 °C)

（定點(diǎn)單元）

參考資料信息表

目的：

參考材料 (RM) 8174 主要用作參考點(diǎn)，使實(shí)驗(yàn)室能夠?qū)⑺麄兡壳皩?shí)現(xiàn)的鎵熔點(diǎn)溫標(biāo)與 NIST 歷史實(shí)現(xiàn)的 1968 年國際實(shí)用溫標(biāo) (IPTS-68) 進(jìn)行比較) [1] 大約 1977 年 6 月和 1990 年國際溫標(biāo) (ITS-90) [2] 大約 1991 年 3 月 11 日，其中這些日期對(duì)應(yīng)于證書最初與 SRM 1968 一起提供，并在從 IPTS-68 過渡到 ITS-90 時(shí)進(jìn)行了更新。

NIST SRM 8174 鎵熔點(diǎn)參考 (29.7646 °C)

描述：

 RM 8174 之前作為標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) (SRM) 1968 提供，初始證書日期為 1977 年 6 月。證書于 1991 年 3 月 11 日更新，從 IPTS-68 更改為 ITS-90 [3]。

SRM 1968 不再符合作為認(rèn)證參考材料的國際質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) (ISO 17034) [4,5]。因此，SRM 1968 的剩余庫存以 RM 8174 的形式提供。一個(gè) RM 8174 單元由大約 25 克的高純度鎵組成，裝在一個(gè)專門設(shè)計(jì)的環(huán)氧樹脂密封電池中。

非認(rèn)證值：

該電池的熔點(diǎn)溫度相對(duì)于 ITS-90 為 29.7646 °C，并使用一組三個(gè)穩(wěn)定的熱敏電阻進(jìn)行驗(yàn)證，這些熱敏電阻定期針對(duì)用于確定鎵的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì) (SPRT) 重新校準(zhǔn)NIST [6] 的三點(diǎn)溫度。 0.0007 °C 的所述不確定性代表在 152 次測(cè)定該電池和類似電池的熔點(diǎn)時(shí)觀察到的總溫度范圍的一半。請(qǐng)注意，純鎵在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓 (101.325 kPa) 的壓力下的液固平衡溫度是 ITS-90 的定義固定點(diǎn)，并規(guī)定為 29.7646 °C [2]

NIST SRM 8174 鎵熔點(diǎn)參考 (29.7646 °C)