產(chǎn)品時(shí)間：2022-12-16
NIST SRM半導(dǎo)體薄膜：AlxGa1-xAs外延層本標(biāo)準(zhǔn)參考材料（SRM）旨在用作分析方法的參考標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量薄膜的組成，俄歇電子能譜（AES）和X射線光電子能譜（XPS）。SRM 2842的一個(gè)單元包括在砷化鎵（GaAs）襯底上生長(zhǎng)的AlxGa1-xAs外延層，具有經(jīng)認(rèn)證的Al摩爾分?jǐn)?shù)x通過使用膠帶將其固定到不銹鋼盤上。
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標(biāo)準(zhǔn)參考材料® 2842
半導(dǎo)體薄膜：AlxGa1-xAs 外延層
(Al 摩爾分?jǐn)?shù) x 接近 0.30)
序列號(hào)：樣品
NIST SRM半導(dǎo)體薄膜：AlxGa1-xAs外延層1、甜度低：赤蘚糖醇的甜度只有蔗糖的60%-70%，入口具有清涼味，口味純正，沒有后苦感，可與高倍甜味劑復(fù)配使用能抑制其高倍甜味劑的不良風(fēng)味。
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